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| 懂bsdl的来报道啦 |
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新闻出处:中电网论坛 发布时间:2003-12-16
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George 发布于 2004-3-27 16:21:00 bsdl是以后测试的一个方向。 这个论坛里数字工程师很多,应该有所了解吧。 大家不是抱怨挣钱少吗?这就是一桶金啊
George 发布于 2003-11-4 16:05:00 俺们单位可是光这一套测试jtag的设备就得人民币十好几个万。怎么就没人懂呢? 再提示一下:inter,infra, flash programming, EPLD programming. 其实就是通过tap口将板子联到pc,pc将信号再传给大板,这套东西比安捷伦3070要更适用于测试BGA.
George 发布于 2003-11-5 15:37:00 是你们自己开发的吗?应用到什么程度? 我和几个作jtag的公司联系过,都是能做infra 和 inter的测试。不能完全满足我们的需求。能不能详细提供一点你们单位的资料。
George 发布于 2003-11-7 10:44:00 是这个意思。但你的东西恐怕还不成熟。flash,和epld也是要考虑的。我不太懂底层的东西,应该是有一个通用应用程序,这样别的公司能够用它来自动生成自己的测试程序。你可以找别人一起合作。或者查一下jtag看别人是怎么作的。市场不要愁。 这些东西点到为止。再有疑问,给我发个短消息就行了
weixiao@usisz.com.cn 发布于 2003-11-12 16:18:00 有谁懂Agilent公司的3070测试机的Boundary Scan?
George 发布于 2003-11-13 10:31:00 3070的原理和jtag是不一样的,3070受限于插针不可能测量到BGA。而且3070的测试夹具又大有贵。 3070对非BGA片子的测试是没有问题的,jtag仅限于带有JTAG接口的IC.举例来说,3070可以测量某个电阻的通断,而对JTAG来说是不可能的。 但是,据jtag说,他们已经将jtag和3070连在了一起,很恐怖啊!agilent很意外的。
weixiao@usisz.com.cn 发布于 2003-11-13 10:38:00 3070现在有了支持IEEE1149.1标准的Boundary Scan测试,也可以不受限于测试探针,只要几个有Boundary Scan的IC连在一起即可测试。 不知和JEAG有否不同? 如果JTAG已经和3070连在一起了,Agilent应该会公布的。
andy.tu@mic.com.tw 发布于 2003-12-16 19:03:00 JTAG测试不能测试GND和VCCpin,所以,测试覆盖率还是很低,INTEL最新出现STT测试技术,用于P5的测试。 George 发布于 2004-3-27 16:21:00 bsdl是以后测试的一个方向。 这个论坛里数字工程师很多,应该有所了解吧。 大家不是抱怨挣钱少吗?这就是一桶金啊
George 发布于 2003-11-4 16:05:00 俺们单位可是光这一套测试jtag的设备就得人民币十好几个万。怎么就没人懂呢? 再提示一下:inter,infra, flash programming, EPLD programming. 其实就是通过tap口将板子联到pc,pc将信号再传给大板,这套东西比安捷伦3070要更适用于测试BGA.
George 发布于 2003-11-5 15:37:00 是你们自己开发的吗?应用到什么程度? 我和几个作jtag的公司联系过,都是能做infra 和 inter的测试。不能完全满足我们的需求。能不能详细提供一点你们单位的资料。
George 发布于 2003-11-7 10:44:00 是这个意思。但你的东西恐怕还不成熟。flash,和epld也是要考虑的。我不太懂底层的东西,应该是有一个通用应用程序,这样别的公司能够用它来自动生成自己的测试程序。你可以找别人一起合作。或者查一下jtag看别人是怎么作的。市场不要愁。 这些东西点到为止。再有疑问,给我发个短消息就行了
weixiao@usisz.com.cn 发布于 2003-11-12 16:18:00 有谁懂Agilent公司的3070测试机的Boundary Scan?
George 发布于 2003-11-13 10:31:00 3070的原理和jtag是不一样的,3070受限于插针不可能测量到BGA。而且3070的测试夹具又大有贵。 3070对非BGA片子的测试是没有问题的,jtag仅限于带有JTAG接口的IC.举例来说,3070可以测量某个电阻的通断,而对JTAG来说是不可能的。 但是,据jtag说,他们已经将jtag和3070连在了一起,很恐怖啊!agilent很意外的。
weixiao@usisz.com.cn 发布于 2003-11-13 10:38:00 3070现在有了支持IEEE1149.1标准的Boundary Scan测试,也可以不受限于测试探针,只要几个有Boundary Scan的IC连在一起即可测试。 不知和JEAG有否不同? 如果JTAG已经和3070连在一起了,Agilent应该会公布的。
andy.tu@mic.com.tw 发布于 2003-12-16 19:03:00 JTAG测试不能测试GND和VCCpin,所以,测试覆盖率还是很低,INTEL最新出现STT测试技术,用于P5的测试。
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