市场调查机构Garner Dataquest最新报告显示，尽管该机构3个月前还看好2005年全球自动化测试设备(automatic test equipment;ATE)市场将微幅增长3.1%，远比整体半导体设备市场来得好，然终端市场能见度不佳，厂商纷纷转而看坏2005年营收增长，因而预估2005年全球IC测试设备市场恐将乌云笼罩，比2004年衰退20%。

　　分析师Laurie Balch指出，自动化测试设备供应商对于市场前景大幅度转向悲观，也促使该机构大幅下修原先预估值，只能说ATE市场转变实在太快，原先估计2005年全球自动化测试设备市场规模可达到49.4亿美元，如今已下修至38亿美元规模。

　　不过，并非所有市场区隔均一致性地被看坏，2005年内存测试设备产值估计仍将增长到14亿美元规模，此外，其他市场区隔包括单芯片(SOC)测试设备、LCD驱动IC测试设备等部份，仍可望浮出水面。不过，设备商表示，客户订购趋向保守，甚至将订单递延到2006年，让设备商更显得焦虑。

　　Balch表示，目前设备商已承受必须降价的压力，尽管目前ATE均价跌幅并未太过剧烈，但在买家缩手、设备商看淡压力下，自动化测试设备平均价格恐将进一步下跌。